PCM/WAT：晶圆出厂前测试数据；CP：芯片探针测试数据；FT：封装成品测试数据。
1、测试标准优化：根据产品规格和工程批次分析报告，制定量产测试标准。
2、量产品质监控：根据事先配置的监控指标对量产数据进行7*24小时监控，及时告警。
3、质量反馈分析：接到客诉或生产异常深入分析相应批次找到改进措施。
4、良率效率提升：定期评估产品良率和测试效率，提升良率， 降本增效。
1、简单易用：三分钟即可上手，学习成本很低；提供丰富的交互式图表，大大提升用户体验。
2、功能强大：支持PCM/WAT，CP，FT等数据类型，满足IC设计公司的测试数据分析需求；批次报告、趋势分析报告，以及多产品、多批次的自定义分析报告；提供丰富的对比和相关性分析功能。
3、速度快、效率高：采用大数据和云计算技术，可实现海量数据的存储、查询和极速分析；支持多人协作，提升工作效率。
4、自动化与智能化：支持自动抓取FTP的原始数据，自动生成批次报告和趋势分析报告；支持SPC、SYL、SBL等无人值守的测试数据监测和告警通知功能，提高监测覆盖率、避免人为失误。
